Characteristic Test Of Transistor Based Multisim Software

Penulis

  • Muhammad Ruswandi Djalal Politeknik Negeri Ujung Pandang
  • Herman HR

DOI:

https://doi.org/10.33387/protk.v6i2.1214

Kata Kunci:

Keywords, Multisim, Transistor, Input-Output Characteristic, Semiconductor

Abstrak

Abstract--The purpose of this study is to determine the characteristics of the transistor before it is used in the circuit. Transistors are semiconductor devices used as amplifiers, as circuit breakers and connectors (switching), voltage stabilization, signal modulation or as other functions. Transistor performance can be seen by testing input-output characteristics. Multisim is an electronic capture and schematic simulation program that is part of a series of circuit design programs, together with NI Ultiboard. Multisim can properly simulate electronic components.

 

 

Biografi Penulis

Muhammad Ruswandi Djalal, Politeknik Negeri Ujung Pandang

Program Studi Teknik Pembangkit Energi

Referensi

T. Widiyaman. (2017). 6 Software Simulasi Skema Rangkaian Elektronika Terbaik Versi Warriornux. Available: https://www.warriornux.com/6-software-simulasi-skema-rangkaian-elektronika-terbaik-versi-warriornux/

Muhal. (2011). Simulasi Rangkaian Elektronika Daya dengan Multisim. Available: https://muhal.wordpress.com/2011/09/26/simulasi-rangkaian-elektronika-daya-dengan-multisim/

R. Tandioga, Marhatang, Bahan Ajar Praktikum Elektronika Daya Program Studi Teknik Konversi Energi Makassar: Politeknik Negeri Ujung Pandang, 2008.

Wikipedia. (2019). NI Multisim. Available: https://en.m.wikipedia.org/wiki/NI_Multisim

R. UNIKOM. (2016). Multisim Tutorial. Available: https://repository.unikom.ac.id/49045/1/Pengantar%20NI%20Circuit%20Design_29%20feb%202016.docx

Yang, L. H., Yang, Q., & Sun, W. L. (2014). Statics analysis of single transistor common emitter amplifier based on Multisim 10 [J]. Modern Electronics Technique, 37(5), 127-130.

Mahata, S., Maiti, A., & Maiti, C. K. (2010, July). Cost-effectiveweb-based electronics laboratory using NI MultiSim, LabVIEW and ELVIS II. In 2010 International Conference on Technology for Education (pp. 242-243). IEEE.

Unduhan

Diterbitkan

2019-09-30

Cara Mengutip

Djalal, M. R., & HR, H. (2019). Characteristic Test Of Transistor Based Multisim Software. PROtek : Jurnal Ilmiah Teknik Elektro, 6(2), 63–67. https://doi.org/10.33387/protk.v6i2.1214

Terbitan

Vol 6 No 2 (2019): PROtek : Jurnal Ilmiah Teknik Elektro

Bagian

PROtek : Jurnal Ilmiah Teknik Elektro

Lisensi

 

    1. Penulis menyimpan hak cipta dan memberikan jurnal hak penerbitan pertama naskah secara simultan dengan lisensi di bawah Creative Commons Attribution License yang mengizinkan orang lain untuk berbagi pekerjaan dengan sebuah pernyataan kepenulisan pekerjaan dan penerbitan awal di jurnal ini.

    1. Penulis bisa memasukkan ke dalam penyusunan kontraktual tambahan terpisah untuk distribusi non ekslusif versi kaya terbitan jurnal (contoh: mempostingnya ke repositori institusional atau menerbitkannya dalam sebuah buku), dengan pengakuan penerbitan awalnya di jurnal ini.

    1. Penulis diizinkan dan didorong untuk mem-posting karya mereka online (contoh: di repositori institusional atau di website mereka) sebelum dan selama proses penyerahan, karena dapat mengarahkan ke pertukaran produktif, seperti halnya sitiran yang lebih awal dan lebih hebat dari karya yang diterbitkan. (Lihat Efek Akses Terbuka).